建立一套与实测试样衍射谱相对应的数据

由于C-相是过充或大电流条件下形成的产物，粒子较细且含有微观应力，谱线宽化很严重，因此在模拟计算中必须调整式中U、V和W的数值，才能得到合理的衍射谱，因而才能与实际观测的X射线谱相对比，确定真正的物相含量。这是一种比较简便的对比标准谱进行物相定量分析方法。按照常规的Rietveld分析法，则要求冗长的测量时间（20h以上）才能取得较强的谱线强度数值以拟合X射线谱。虽然全谱拟合可以更精确，且可以获得更多的微结构信息，但价格上不合算，而采用本文提出的新方法，可以省时、省费用、方法简便又实用。在有条件的地方，建议使用。在适当条件下，这是电池电极材料定量相分析的又一种可用的方法。

根据Rietveld分析方法计算了MH-Ni电池电极材料主要物相的标准谱。通过多相模型定量分析法，利用X.pertplus分析软件，调整了有关峰形和峰宽等参数，建立了一套与实测试样衍射谱相对应的数据，因而可以简便有效地计算电极材料中/关键0物相的含量。在适当条件下，这是电池电极材料定量相分析的又一种可行方法。