计算机对探测器进行偏置和增益校准

质量衰减系数X射线吸收理论模型射线与物质的相互作用主要为光电效应、康普顿散射、瑞利散射和电子对效应。电子对效应只在光子能量大于1.02MeV时发生。很好地描述了指定样品在需要能量范围内的X射线质量衰减系数，拟合值和实验值误差小于1%.i是两种高压下的X射线未穿过样品时探测器的输出。ρ是双组分样品的质量厚度。如果在某高压下，X射线等效为一种等效能量的射线，就可将积分方程组简化为二元一次线性方程组这里采用单组分样品计算得到的等效质量衰减系数。

计算机通过串口向探测器发送命令，双组分样品的X射线吸收测量双组分样品的组合方式，数据由探测器外侧的RS422接口和电缆输出到计算机。由于X射线出射强度有角分布，且分布与高压有关，不同探测单元对射线的响应也存在差别，所以每次测量前都须对探测器进行偏置和增益校准。

单组分的X射线吸收测量X射线管焦点到样品距离为55cm，焦点到探测器表面的距离为70cm，9片有机玻璃片和9片铝片，各呈“阶梯状”分布。每组样品*小宽度2cm，*大宽度8cm，这样由X射线非垂直入射引起的样品厚度误差*大为0.4%.与有机玻璃质量厚度的关系。与铝质量厚度的关系曲线：用双能X射线测量双组分物质的质量厚度。